Ystemy baz danych do rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów,
Oprogramowanie do rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów i spektroskopii elektronów
Augera oraz Podręczniki widm rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów

Specjalizujemy sie˛ w dziedzinie baz danych widm monochromatycznych
rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów

SpecMaster – cyfrowy system widmowej bazy danych do rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów (XPS) jest rezultatem 10 lat badań i planowania jego twórcy i przeznaczony jest dla naukowców, inżynierów, badaczy i nauczycieli, którym potrzebne są niezawodne dane widmowe rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów (XPS) i zaawansowane oprogramowanie do przetwarzania danych widmowych dla rozwoju produktów oraz kształcenia studentów.      Podręcznik zawierający ponad 2500 wersji widm opublikowany został jako 5-tomowy zestaw zatytułowany: "Handbooks of Monochromatic XPS Spectra". Wersje elektroniczne PDF tych 5 tomów są w opracowaniu (tom I jest już dostępny). Firma XI Inc. sprzedaje również oprogramowanie do przetwarzania danych widm, oprogramowanie do konwersji danych oraz akcesoria do rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów, jak również prowadzi szkolenia techniczne i seminaria      XPS International pracuje obecnie nad widmowym procesorem "Spectral Data Processor" (SDP) v5.0, który zapewnia zaawansowane przetwarzanie danych widmowych i konwersję danych z ASCII dla rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów i widm spektroskopii elektronów Augera (AES), otrzymywanych z różnych narzędzi rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów (XPS) i spektroskopii elektronów Augera (AES) lub z formatu VAMAS, publikowanych przez National Physical Laboratory (NPL- krajowe laboratorium fizyczne). To nowe oprogramowanie pozwoli użytkownikom na przetwarzanie i publikowanie widm w wielu formatach o wysokiej jakości prezentacji, które można z łatwością importować do edytorów tekstu i innych programów edytorskich (DTP).      Założycielem firmy XPS International jest B. Vincent Crist, który uzyskał doktorat w dziedzinie chemii i pracuje w dziedzinie rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów od 1983 roku, gdy rozpoczął pracę w Surface Science Laboratories. Jest autorem wielu publikacji oraz serii podręczników z dziedziny rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów. Wygłosił również wiele wykładów dotyczących praktycznych zastosowań rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów.      Zapraszamy do odwiedzenia naszej witryny, gdzie można uzyskać więcej informacji dotyczących naszych usług internetowych. Wszystkie informacje umieszczone na naszej stronie są w języku angielskim. Prosimy o przysyłanie do nas wszelkiej korespondencji również w języku angielskim. Kliknij tu, aby wejść

Copyright © 2007  XPS International, LLC.   Established 1994.  All Rights Reserved.
E-mail:  sales@xpsdata.com